安捷倫內電路測試解決方案贏得具有聲望的技術獎

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣布旗下的 Agilent Medalist

i3070系列5內電路測試(ICT)解決方案，在4月底的2010年上海

Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創

新和可靠性，對改善現今成熟的SMT製造環境中的產品品質所做

的貢獻。

Agilent i3070系列5被提名為第四屆SMT China遠見獎及2010年EM

Asia創新獎測試類獲勝者，並分別於4月20和21日在上海Nepcon展

中宣布。此外，Agilent i3070系列5還入圍2009年EDN創新獎，及

2010年Test and Measurement World最佳測試產品獎決賽名單。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，很榮幸獲得

SMT China和EM Asia創新獎，不光是亞洲，也要感謝全球的客戶

選擇與安捷倫合作。客戶的電路板測試需求，以及安捷倫在下一

個挑戰出現之前預做準備和不斷創新的決心，是促進內電路測試

技術持續發展的關鍵。

Agilent i3070系列5是安捷倫最新的內電路測試儀器，其創新特色

包括可維持高相容性，並提供更快的測試速度等額外功能。新的

安捷倫公用程式卡(Agilent Utility Card)可讓使用者經由插入式電子

來加入自訂功能，使Agilent i3070系列5發揮最大的效益。該系統

還提供更廣泛且更彈性的電源管理能力，並可讓仍在使用舊款

Agilent 3070和Agilent Medalist i3070內電路測試儀器的使用者進行

升級。