2008安捷倫電子量測論壇成功登場

安捷倫(Agilent)上週分別於台北、新竹舉辦為期兩天的電子展與電

子量測論壇已成扔n場, 會中並以Digital及wireless兩大主題深入探討

，與業界分享最新的量測趨勢，此外，安捷倫亦邀約其技術合作

夥伴包話Allion、Microchip、Rambus、Xillinx、Anite一同共襄盛舉，

統共發表25個專題演講，以及多達22個最新技術實機展示。

論壇主題一：Agilent Digital Measurement Forum

Agilent Digital Measurement Forum主題以「豐富您的數位生活」為

主軸，分別探討「高數位應用論壇」與「主流數位應用論壇」二

大專業領域，並著重在數位設計和測試的未來發展趨勢，在「高

速數位應用論壇」中主要探討包話Display Port相容性測驗、

PCI-Express 2.0進階驗證、PLL鎖相迴路設計、超高速USB3.0的產

品開發以及DDR1/2/3到XDR的記憶體測試等重要議題。

而在「主流數位應用論壇」中，則針對DigiRF、MIPI說明行動數位

無線技術的演進過程、FPGA設計測試和除錯，以及低速串列匯流

排除錯等議題進行討論。

現場展示部分則展示出全套DisplayPort發射與接收端(Source & Sink)

全自動前置測試解決方案，則成為此次眾所矚目的焦點，此方案

可進行高效率且穩定一致的驗證程序，當需要反覆地對溫度與設

計的變動進行量測時，也可執行快速的投計與邊限分析，經過初

始的設定後，將可進行信質與效能超高的全自動測試。

此外，現場亦展示PCI-Express 2.0從物理到通訊層的全套伺服器解

決方案，能滿足除錯、分析、驗證與符合性測試需求，在產品設

計初期找出可能導致符合性失敗的原因，從而加強客戶提供光進

產品的能力，並向客戶證實產品完全符合PCIe 2.0標準。

論壇主題二：Wireless Test World

在Wireless Test World中，以「寬頻無線通訊技術論壇」及「行動

通訊技術論壇」作為兩大主軸，在「寬頻無線通訊技術論壇」中

則深入剖析WiMAX的市場趨勢與認證測試需求以及說明MIMO通道

摸擬測試的復雜性。

在「行動通訊技術論壇」中則針對LTE的技術方向與實體層的量

測進行說明，並討論最新的3GPP標準，以及解說LTE重要的處理

方法與程序，此外，隨著現有行動服務發展到4G的過程愈來受注

意，會鞏更說明在HSPA開發初期發現設計問題的好處，且可用更

低的成本如更少的時間來解決問題，並加快速產品上市。