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駿曦 公司新聞

駿曦 發表非接觸式高度檢測儀
2015年11月18日
AOI光學量測廠商駿曦公司全新發表非接觸式高度檢測儀TG-Calip er,可運用於半導體封裝線弧高度之檢測,及各種3D高度、寬度,以 高於傳統10倍的0.1um高解析度,能夠更精準的量測物體表面的…
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