安捷倫發表USB 3.0 SuperSpeed實體層相容性驗證測試應用軟體　

安捷倫科技(Agilent)日前發表完善的SuperSpeed USB 3.0武試解決方

案，可確保USB 3.0裝置符合最新出爐的規格標準。

安捷倫在加州聖荷西市舉行的第一屆USB 3.0 Developers

Conference中，展示新的USB 3.0發送器和USB 3.0接收器的相容性

驗證測試解決方案，當中包含業界第一套USB 3.0信號品質測試夾

具，此一完整的解決方案可協助工程師快速又準確地測試USB 3.0

的設計。

此解決方案將採行USB-IF於11月14日發表的USB 3.0最終規格。

USB 3.0又稱為"SuperSpeedUSB"，可提供比USB 2.0快十倍的資料

傳輸率，且耗電量更低。

SuperSpeed USB對傳輸速率超過25 Gbps的資料儲存裝置來說極為

必要，業界的專家預估，到2009年底，製造商就會採用

SuperSpeed USB，且2010年就會有眾多的消費產品支援USB 3.0。

然而，在真正的晶片設計出來，可以實際進行測試之前，沒有任

何USB 3.0的解決方案可以開

始進行正式的認證。

安捷倫科技示波器事業部總經理Scott Sampl表示，目前正與

SuperSpeed USB技術的開發廠商密切合作，以確保其解決方案完

全符合USB 3.0相容性驗指測試工程師的需求，為了進一步改良安

捷倫的SuperSpeed USB 3.0解決方案，目前安捷倫也積極與早期的

解決方案夥伴共同合作。