亞亞科技：高效IR檢查系統，優化封裝廠品質管理|亞亞科技

亞亞科技在半導體自動光學檢測設備領域表現亮眼，運用先進的機械視覺和電腦運算技術，為WLCSP、COF╱COG及Fan Out封裝提供高效檢測解決方案。去年（2019）的半導體展會上，亞亞科技展出了全新產品Reel IR Inspection，這款產品能夠快速檢測髒污、Chipping、Sidewall Crack等缺陷，並對空料和IC尺寸進行監控，有效降低人工成本，提升出貨品質。 亞亞科技的全系列IR檢測系統包括手動IR檢查機、Auto Wafer IR檢查機、Auto Tray IR檢查機及Reel IR檢查機，這些系統都利用IR光源和相機穿透矽晶圓，進行隱裂（micro crack）及背崩的檢測。隱裂是肉眼難以辨識的細微裂痕，但在製程中若能及時檢測出來，就能避免後續生產中出現破片、斷晶或功能失效的問題。 亞亞科技的全自動IR檢查系統還可以搭配自動上下料模組，具備Mapping功能、自動判斷功能及離線分析軟體，能夠記錄缺陷位置、輸出缺陷影像及統計資訊，成為封裝廠的優質品管利器。 亞亞科技在IR隱裂檢測領域耕耘超過10年，技術領先業界。公司最早從研發太陽能檢查設備開始，逐步擴展到為太陽能晶片（Solar wafer）到太陽能電池（Solar Cell）提供完整解決方案。亞亞科技的檢測設備都是自行研發製造，在自動光學檢測領域擁有超過20年的專業研發及製造經驗，累積銷售自動光學檢測設備超過千台，並外銷至歐美、日本、東南亞等地。 亞亞科技在大陸昆山及深圳設有分公司，提供技術支援與售後服務，並積極招募研發人員。公司聯繫電話為（03）538-9586，網址為www.yayatech.com。