2008安捷倫電子量測論壇成功登場

安捷倫(Agilent)上週分別於台北、新竹舉辦為期兩天的電子展與電子量測論壇已成功登場，會中並以Digital及Wireless兩大主題深入探討，與業界分享最新的量測趨勢，此外，安捷倫亦邀約其技術合作夥伴包括Allion、Microchip、Rambus、Xillinx、Anite一同共襄盛舉，總共發表25個專題演講，以及多達22個最新技術實機展示。論壇主題一：Agilent Digital Measurement ForumAgilent Digital Measurement Forum主題以「豐富您的數位生活」為主軸，分別探討「高速數位應用論壇」與「主流數位應用論壇」二大專業領域，並著重在數位設計和測試的未來發展趨勢，在「高速數位應用論壇」中主要探討包括Display Port相容性測驗、PCI-Express 2.0進階驗證、PLL鎖相迴路設計、超高速USB3.0的產品開發以及DDR1/2/3到XDR的記憶體測試等重要議題。而在「主流數位應用論壇」中，則針對DigiRF、MIPI說明行動數位無線技術的演進過程、FPGA設計測試和除錯，以及低速串列匯流排除錯等議題進行討論。現場展示部分則展示出全套DisplayPort發射與接收端(Source & Sink)全自動前置測試解決方案，則成為此次眾所矚目的焦點，此方案可進行高效率且穩定一致的驗證程序，當需要反覆地對溫度與設計的變動進行量測時，也可執行快速的設計與邊限分析，經過初始的設定後，將可進行信號品質與效能超高的全自動測試。此外，現場亦展示PCI-Express 2.0從物理到通訊層的全套伺服器解決方案，能滿足除錯、分析、驗證與符合性測試需求，在產品設計初期找出可能導致符合性失敗的原因，從而加強客戶提供先進產品的能力，並向客戶證實產品完全符合PCIe 2.0的標準。論壇主題二：Wireless Test World在Wireless Test World中，以「寬頻無線通訊技術論壇」及「行動通訊技術論壇」作為兩大主軸，在「寬頻無線通訊技術論壇」中則深入剖析WiMAX的市場趨勢與認證測試需求以及說明MIMO通道模擬測試的複雜性。在「行動通訊技術論壇」中則針對LTE的技術方向與實體層的量測進行說明，並討論最新的3GPP標準，以及解說LTE重要的處理方法與程序。此外，隨著現有行動服務發展到4G的過程愈來愈受注意，會中更說明在HSPA開發初期發現設計問題的好處，且可用更低的成本和更少的時間來解決問題，並加快速產品上市。