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2013年10月24日
星期四

阿托科技TPCA Impact研究 業界矚目 |阿托科技

阿托科技(ATOTECH)今年TPCA Impact研討會發表二篇論文:1、先進盲孔填銅製程,應用於改善載板單元內,厚度分佈的均勻性;2、半加成製程中非咬蝕性乾膜附著促進劑:先進乾膜前處理,受到市場關注。

阿托科技表示,以雷射鑽孔的微盲孔(BMV)和填銅,是生產高密度互連板的標準技術,為提供可靠的互連密度及封裝載板最佳的焊錫表面附著力,採用盲孔填銅技術,製程必須使微盲孔無空洞及包孔,表面鍍銅厚度愈薄愈好。

為求更細的線寬和線距,已從全板鍍銅,演變到線路鍍銅,盲孔填銅必須能應用於疊置式微盲孔結構,填銅後表面須光滑平整;IC載板技術的助劑藉由線路鍍銅方式,以半加成法(SAP),可生產極細的線寬及線距,適用於10μm線寬/線距結構。

因應未來IC封裝基板路線要求乾膜線寬及線距將低於5/5μm,在半加成流程(SAP),化學銅層厚度薄到約0.5微米,乾膜前處理已不能再蝕刻化學銅表面。阿托科技開發替代方案,以非蝕刻型附著促進劑(NEAP)的乾膜前處理,成功生產出線寬/線距10/10μm以下的線路圖案,良率較傳統硫酸清潔製程高。

此外,推出應用在電鍍填銅、疊置式微盲孔結構填銅的批量生產系統;針對較低銅厚要求,以新製程來改善微盲孔填銅和單位內厚度分佈均勻性,在垂直升降式設備及垂直輸送連續鍍銅設備也有亮麗的成果。

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